Hioki FT4310 Bypass Diode Tester

Công cụ là lần đầu tiên trên thế giới phát hiện các lỗi mở trong bảng điều khiển  23 tháng 4 năm 2017 - Nagano, Nhật Bản Hioki vui mừng thông báo về việc tung ra bộ FT4310 cho hệ thống quang điện.  FT4310, được thiết kế để kiểm tra điốt bằng đường dây trong các dây chuyền của các tế bào quang điện tinh thể, có thể được sử dụng để phát hiện các lỗi lỗi mở và ngắn mạch trong điốt bypass bằng dây dù ở ánh sáng ban ngày hoặc vào ban đêm. Thiết bị này là thiết bị di động đầu tiên có khả năng phát hiện các lỗi lỗi diode qua đường hở trong bảng điều khiển (không yêu cầu các tấm được bảo vệ khỏi ánh sáng mặt trời).  * Bypass diode: Một thành phần mà các tuyến đường tạo ra hiện nay xung quanh các tế bào quang điện mà không thể sản xuất điện.  *Chuỗi: Một nhóm mô-đun quang điện đã được nối dây với nhau để tạo ra sức mạnh chung.  Bối cảnh phát triển Bối cảnh đi qua được sử dụng trong các hệ thống quang điện là các thành phần quan trọng có vai trò kinh tế, bằng cách giữ cho điện không bị giảm và vai trò an toàn bằng cách hạn chế sưởi ấm trong các tế bào không thể tạo ra điện và do đó ngăn ngừa kịch bản xấu nhất ngọn lửa. Tuy nhiên, các kỹ thuật viên phần lớn không thể kiểm tra các thành phần này do thiếu một phương pháp đơn giản để thử nghiệm chúng cho lỗi mở. Hioki đã phát triển và đưa ra FT4310 nhằm tạo điều kiện phát hiện các lỗi này một cách nhanh chóng và đơn giản nhằm tăng cường sự an toàn của các hệ thống quang điện được cài đặt.    Ứng dụng chính · Bảo trì và quản lý hệ thống quang điện  · Lắp đặt hệ thống quang điện  Các tính năng chính  1. Phát hiện lỗi mở trong bypass điốt bởi chuỗi hoặc vào ban đêm hoặc vào ban ngày, mà không cần phải bảo vệ tấm từ ánh sáng mặt trời By ngắt kết nối chuỗi được đo từ Lưới, các kỹ thuật viên có thể sử dụng FT4310 để phát hiện ra các dải quang điện với các điốt băng thông mà đã gặp một lỗi hở, và chúng có thể làm việc đó tại hộp nối và không cần che chắn các tấm khỏi ánh sáng mặt trời. Bằng cách này, họ có thể nhanh chóng xác định các dây bị hư hỏng.  2. Đo khoảng cách tuyến đường tránh, kể cả điện trở của dây dây. Kể từ khi FT4310 có thể đo được tuyến đường tránh, Bao gồm cả dây điện của dây điện quang điện, khách hàng có thể phát hiện kiểm tra sự suy thoái diode (dưới dạng tăng sức đề kháng) cũng như tăng điện trở tiếp xúc của các đầu nối giữa các mô đun.  3. Phát hiện sự mất mát của cụm và các vòng lặp ngắn đi qua các chu trình bằng một máy đo vôn kế có độ chính xác cao. Khi một tín hiệu bypass bị lỗi mạch ngắn, điện áp đầu ra của dây giảm (khoảng 10 V) bởi vì các tế bào quang điện tương ứng không còn đóng góp nữa Để phát điện. Vì nó kết hợp với một vôn kế DC có độ chính xác cao, nên FT4310 có thể phát hiện sự khác biệt này với 10 V, cho phép nó phát hiện ra các tổn thất của cụm và các lỗi lỗi ngắn mạch diode.  * Cluster: Một nhóm các tế bào quang điện đã được nối thành chuỗi; Đơn vị nhỏ nhất của hoạt động của hệ thống quang điện. Một đi-ẽng nối của cụm được kết nối song song. Còn được gọi là cụm sao quang điện, hoặc cụm sao. Tham khảo giá tại đây : HIOKI FT4310

0.0 Đánh giá trung bình
5 0% | 0 đánh giá
4 0% | 0 đánh giá
3 0% | 0 đánh giá
2 0% | 0 đánh giá
1 0% | 0 đánh giá